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山东大学陶绪堂教授研究团队---利用顶部籽晶溶液生长法成功制备出高质量氧化镓晶体

近期,由山东大学晶体材料国家重点实验室的研究团队在学术期刊 CrystEngComm 发布了一篇名为 Top-seeded solution growth and characterization of β-Ga2O3(顶部籽晶溶液生长 β-Ga2O3 的表征 )的文章。

1. 项目支持

该项研究得到国家自然科学基金(批准号:62175129)、山东大学齐鲁青年学者、山东省泰山学者(批准号:tsqn202306014)和中国高校学科人才引进计划(111计划,编号:BP2018013)的资助。

2. 背景

β-Ga2O3(β-氧化镓)是一种超宽带隙(4.8 eV)半导体,因其高击穿电场(8 MV/cm)和优异的电子性能,被广泛应用于高功率电子器件和深紫外光电探测器。然而,目前 β-Ga2O3 单晶主要通过熔融法(如 Czochralski 法、布里奇曼法等)生长,这些方法需要在高达 2073 K 的温度下进行,容易导致晶体缺陷、贵金属损耗以及杂质污染。因此,开发低温、高质量的 β-Ga2O3 晶体生长技术成为研究热点。

3. 主要内容

该团队采用顶部籽晶溶液生长(TSSG)法,首次使用 TeO2-Li2CO3 作为助熔剂,以 1023 K(远低于 2073 K 的熔融温度)成功生长出尺寸为 7 × 13 × 4 mm3 的 β-Ga2O3 块状单晶。实验发现,该方法不仅有效降低了生长温度,还能显著减少铂金消耗和材料挥发损失。此外,该晶体的主要外形面(010)、(100)、(0-11) 和 (1-1-1)也与 Bravais-Friedel 和 Donnay-Harker 方法的理想形态学预测非常吻合。这项工作提供了一种潜在的 β-Ga2O3 晶体生长方法,在低温下有效的减少铂的损耗。

4. 实验细节

(1) 晶体生长

选择 Ga2O3 : TeO2 : Li2CO3 = 1:7:1.5 作为熔剂配比,并在铂金坩埚中均匀混合。

样品在 1173 K 下退火 50 小时,并继续加热至 1273 K 保持 100 小时,确保完全熔融。

通过添加 0.15 mole的 Li2CO3 降低熔体粘度,以优化晶体生长速率和尺寸。

在饱和点以上 10 K 处插入籽晶后缓慢冷却至 1003 K,以每天 0.2–0.5 K 的速率生长 37 天后提拉出晶体。

(2) 结构与性能表征

晶体结构符合单斜 C2/m 晶系,晶格参数 a = 12.247 Å, b = 3.044 Å, β = 103.866°。

HRXRD 结果表明,在 (010) 面的摇摆曲线半峰全宽(FWHM)为 140.4″,表明晶体质量优异。

XPS 测试 β-Ga2O3 的元素组成,确认没有杂质(如 Te、Pt、Li)污染。

元素分析表明 Ga/O 的原子比为 39.41% : 60.59%,接近理论值。

紫外-可见-红外透射光谱(UV-Vis-NIR)测得 β-Ga2O3 在 200–1200 nm 波长范围内具有高透过率,紫外截止边约为 260.1 nm,对应的光学带隙约为 4.51 eV。

红外光谱(IR)在 1.28–7.34 μm 范围内无明显吸收,适用于可见光至中红外应用。

5. 创新点

(1)低温晶体生长:

采用 TSSG 方法在 1023 K 成功生长 β-Ga2O3,比传统熔融法所需的 2073 K 大幅降低了生长温度。

(2)减少铂金损耗:

传统方法易导致贵金属污染(如 Rh-Pt 合金坩埚的铱损耗),而 TSSG 法有效降低了消耗。

(3)优化溶剂:

通过 TeO2-Li2CO3 降低熔体粘度,提高晶体生长均匀性,克服了 PbO-PbF2 和 B2O3-alkaline-MoO高温挥发性问题。

(4)高质量晶体结构:

该方法生长的 β-Ga2O3 具有良好的单晶质量,FWHM 仅 140.4″,可用于进一步的物理研究和器件应用。

6. 结论

该团队成功开发了一种基于 TeO2-Li2CO3 熔剂的 TSSG 法,在 1023 K 条件下生长出高质量 β-Ga2O3 单晶。这一方法不仅降低了生长温度,减少了贵金属损耗,还提高了晶体质量,展现出在高功率电子器件和光电应用中的潜力。该研究为 β-Ga2O3 晶体的低温高效生长提供了新思路,为未来半导体材料的优化和应用奠定了基础。

7. 实验图示

图 1. β-Ga2O3 晶体的粉末 X 射线衍射图样。

图 2. (a), 通过自发原生生长 β-Ga2O3 单晶照片;(b) 通过 TSSG 法使用无取向籽晶生长的 β-Ga2O3 单晶照片(粘在棒上的晶体是 GaTe2O6,通过助熔剂的挥发生长在棒上);(c) β-Ga2O单晶的(010)晶面(4 × 2 × 1 mm3);(d) 不含籽晶的 β-Ga2O3 晶体的理论形貌;(e) β-Ga2O3 晶体的主要晶体生长面。

DOI:

doi.org/10.1039/D4CE00678J

本文转发自《亚洲氧化镓联盟》订阅号